IC器件测试插座

产品简介

GU41-10B320-T200 IC器件测试插座(高频测试插座)GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距)，适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座。

产品型号：GU41-10B320-T200

更新时间：2024-03-12

厂商性质：代理商

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GU41-10B320-T200

IC器件测试插座示意图

IC器件测试插座、高频测试插座

　　GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距)

　　适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座

　　1.0mm/0.039“间距18x18触点最大值

　　-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本竞争力-交货时间

　　短-温度范围(典型值)

　　-40至+150℃(典型值)

　　[可接受的器件]

　　FTGB196(赛灵思)

　　256针FBGA(英特尔)

　　FT256/FTG256(赛灵思)

　　FG256/FGG256(赛灵思)

　　FG320/FGG320(赛灵思)

　　[可接受的器件]

　　FTGB196(赛灵思)

　　256针FBGA(英特尔)

　　FT256/FTG256(赛灵思)

　　FG256/FGG256(赛灵思)

　　FG320/FGG320(赛灵思)

　　GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距)

　　适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座

　　1.0mm/0.039“间距18x18触点最大值

　　-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本竞争力-交货时间

　　短-温度范围(典型值)

　　-40至+150℃(典型值)

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