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IC器件测试插座

产品简介

GU41-10B320-T200 IC器件测试插座(高频测试插座)GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距),适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座。

产品型号:GU41-10B320-T200
更新时间:2024-03-12
厂商性质:代理商
访问量:857
详细介绍
品牌其他品牌应用领域电子

GU41-10B320-T200

      IC器件测试插座示意图

      IC器件测试插座、高频测试插座

  GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距)
  适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座
  1.0mm/0.039“间距18x18触点最大值
  -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本竞争力-交货时间
  短-温度范围(典型值)
  -40至+150℃(典型值)


  [可接受的器件]
  FTGB196(赛灵思)
  256针FBGA(英特尔)
  FT256/FTG256(赛灵思)
  FG256/FGG256(赛灵思)
  FG320/FGG320(赛灵思)


  [可接受的器件]
  FTGB196(赛灵思)
  256针FBGA(英特尔)
  FT256/FTG256(赛灵思)
  FG256/FGG256(赛灵思)
  FG320/FGG320(赛灵思)


  GU41系列(1.0毫米/0.039英寸间距)
  适用于BGA(FPGA),LGA测试和老化插座
  1.0mm/0.039“间距18x18触点最大值
  -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本竞争力-交货时间
  短-温度范围(典型值)
  -40至+150℃(典型值)

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